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影响，对于测量具有重复图形结构之间的间距时，只要整个测量过程中照明条件保持不变，其影响可以忽略，因为每个重复图形结构都同时在变大或变小，间距的测量计算直接消除了影像变形的影响，如测量玻璃尺、网格板刻线间距；除了这种特殊情形外，如测量圆的直径、工件的长度和宽度，都将带来明显的误差。在以影像测量工件样品结构的几何尺寸时，光照明条件的改变将会直接影像被测尺寸，如线宽、圆直径及其他几何形位公差，因次要确保取到的边界点是产品需要检测的边界，在高精度测量中，这是导致测量不确定度增大的关键因素，应引起足够重视。


1、印模法：      是指工件在测量之前使用石蜡或者一些低熔点的合金等印模材料，将其印在被测量的工件的表面，然后再将其放置到影像测量仪的显微镜下进行测量，这种方法虽然可以很好的测量出结果，但是也有一定的局限性，主要适用于大型或者重量较大的工件。      2、干涉法：      是指利用影像测量仪的光波干涉原理，然后使用干涉显微镜进行具体的尺寸测量。      3、光切法：      也是同样利用影像测量仪的光切原理进行的，使用设备的显微镜进行相关的测量。


长时间以来，我国仪器仪表制造业因入门门槛低、技术水平薄弱、企业质量意识淡薄、管理不规范等，给人留下了产品质量差、性能不稳定的印象，不少单位和企业大量采购进口设备。质量是企业长久发展的根本。仪器仪表制造企业要加强对产品生产前原材料质量控制，生产中严格按照生产标准，生产后加强质量检测。其次，加速产学研转化。产学研是指科研、教育、生产不同社会分工在功能与资源优势上的协同与集成化，是技术创新上、中、下游的对接与耦合。我国仪器仪表制造业，整体研发水平不高，产学研转化缓慢，效果不明显。目前，虽然有不少仪器仪表制造企业通过与高校、科研院所合作的方式开展产学研合作，为企业的创新发展注入新的动力，但对基础工艺、基础材料、关键技术的研究程度还不够深入。业内人士认为，加速产学研国家应该在科研能力转化方面给予更多的政策支持，以更好地填补科研与科技生产力之间的鸿沟。

影像成像故障。显现黑屏时可检查电源线是否接好，电源电压等，插紧显现器信号线，如有零件损坏则需求替换显现器或者十字线产生器。当物镜变倍时十字线与描准点偏移大时，重调锁镜筒的螺丝钉，或者换镜筒。当呈现被测工作的某一边有暗影时，可调理摄像机或者玻璃四个c角上的螺丝，摆正工件。

电气故障。常见毛病有灯泡不亮、轴流风机不滚动、易烧灯泡、易烧保险丝、变压器过热，损坏等。